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T-450台式高精度X射线荧光分析仪
粮食中镉等沉金属急剧精确丈量
T-450选取高精度X射线荧光(HDXRF)技术，通过选取先进的单色和聚焦光学器件双曲面弯晶光学晶体(DCC),将设备信噪比大幅提高，使得与传统能量色散X射线荧光技术(EDXRF)相比的检测精度大大提升。图1显示了HDXRF技术设备根基结构，双曲面弯晶光学晶体(DCC)将来自射线源的多色光转入高能单色光并有效聚焦到丈量样品上，样品经聚焦后的高能单色光束引发后其中的沉金属元素发射出各自的特点X射线荧光信号，高分辨率SDD半导体检测器对信号进行网络与处置，*后由软件FP算法推算得出样品中所含元素含量。
表4.检出限(单元：mg/kg) | |||
元素 | 镉(cd) | 铅(Pb) | 砷(As) |
检出限 | 0.015 | 0.025 | 0.025 |
规格 | T-450 |
合规性 | GB2762-2017 |
丈量步骤 | 高精度X射线荧光光谱法-HDXRF |
X射线管 | 50kV,1mA |
探测器 | Fast SDD探测器 |
光学系统 | 双曲面弯晶晶体-DCC |
丈量功夫 | 30s-1200s可选 |
丈量领域 | 分析元素：Cd,Ni, Cu, Zn,As,Pb等 |
工作温度 | -5℃~50℃ |
镉的合规检测
T-450基于HDXRF@技术，可急剧正确定量分析食品、粮食中镉等沉金属元素，其卓越检测机能能够满足中国食品安全国度尺度要求-检出限轻松应对大米中镉元素的律例限值0.2mg/kg。此表，T-450亦可对大米中的砷进行初步筛选定性分析。
急剧扫描
T-450沉量轻体积幼，方便携带，操作单一，无需复杂的样品造备步骤，轻松实现工作现场急剧正确扫描分析的必要，其了局如表2所示。
1、两分钟急剧扫描；
2、急剧分辨超标，合格，灰色地带样品；
仪器特点
1、不必要化学消解，测试速度快；
2、元素检出限低，切合GB2762-2017;
3、分析模式：定性扫描分析模式、定量分析模式。
正确性和沉复性
拔取肯定数量大米尺度样品，对其中的Cd镉元素进行直接分析，通过度析其丈量值与尺度值的相对误差来调查仪器的测试正确性。表3数据批注HDXRF在凹凸镉含量检测均可提供精确、不变的了局，0.2和0.1mg/kg样品的分析误差通常幼于10%。
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